光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計流程介紹

　　光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計是根據(jù)使用條件確定符合使用要求的各種數(shù)據(jù)，即光學(xué)系統(tǒng)各燈組的性能參數(shù)、形狀和結(jié)構(gòu)等。因此，光學(xué)設(shè)計過程可以分為四個階段：形狀計算、初始結(jié)構(gòu)計算、圖像差異校正和平衡以及圖像質(zhì)量評估。

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計大綱規(guī)格的計算

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：在這個階段，需要設(shè)計光學(xué)系統(tǒng)的框架圖，確定基本的光學(xué)特性，以滿足規(guī)定的技術(shù)要求。即確定放大率或焦距、線視野或角視野、數(shù)字孔徑或相對孔徑，共軛距離、后部工作距離、盲腸位置和形狀。因此，這個階段通常被稱為形狀計算。一般根據(jù)理想光學(xué)系統(tǒng)的理論和計算公式來計算形狀。為了不在機構(gòu)框架中實現(xiàn)，計算中考慮機械框架和電氣系統(tǒng)。每個項目的績效決策合理。如果要求太高，設(shè)計結(jié)果會變得復(fù)雜。如果要求太低，設(shè)計可能不符合要求，所以這一步要謹(jǐn)慎進行。

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計框架的計算和選擇，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計的初始框架一般采用以下兩種方法：

　　1.根據(jù)初級圖像差分理論，初始幀的方法是根據(jù)整體尺寸計算的基本特征，求解滿足初級圖像質(zhì)量要求的初始幀。

　　2.從現(xiàn)有數(shù)據(jù)中選擇初始幀。

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：這種方法既實用又容易成功。所以很多光學(xué)設(shè)計師被廣泛使用。但是，設(shè)計師對光學(xué)理論有深刻的理解和豐富的設(shè)計經(jīng)驗，才能在各種框架中選擇一個簡單而令人滿意的初始框架。首先，鏡框的選擇是鏡片設(shè)計的基礎(chǔ)，選擇是否合適關(guān)系到未來設(shè)計的成功與否。即使是自動設(shè)計程序和熟練的設(shè)計師也無法使設(shè)計成功。

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計圖像差異校正和平衡

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：選擇初始幀后，計算機使用光學(xué)計算程序計算光路，并計算所有圖像和各種圖像曲線。通過對物體數(shù)據(jù)的分析，可以找出影響光學(xué)系統(tǒng)圖像質(zhì)量的主要圖像，找到改善方法，開始物體補償。圖像分析和平衡是在滿足圖像質(zhì)量要求之前的重復(fù)過程。

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計的圖像質(zhì)量評價

　　光學(xué)系統(tǒng)測試廠家：光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計的圖像質(zhì)量與像差大小有關(guān)，光學(xué)設(shè)計的目的是校正光學(xué)系統(tǒng)的像差。但是，沒有一個光學(xué)系統(tǒng)是不可能的，也沒有必要把所有的圖像都校正為零。一定還有剩余的，大小和畫質(zhì)都不一樣。因此，光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計人員知道各種光學(xué)系統(tǒng)的殘余像差的可接受值和公差，以便根據(jù)殘余像差的大小來判斷光學(xué)系統(tǒng)的圖像質(zhì)量。